Ett nanokompositsystem och -metod för forskning om nanomaterial

1. Föreliggande uppfinning hänför sig till området för vetenskaplig forskningsutrustning på forskningsnivå inom nanovetenskap, och i synnerhet till området för ett integrerat system i nanoskala och en metod för forskning av nanomaterial.

Bakgrundsteknik:

2. Nanovetenskap är en vetenskap som studerar fysikens lagar inom 100 nanometer, och dess utveckling är oskiljaktig från utvecklingen och genombrotten inom området för vetenskaplig forskningsutrustning. Typerna av vanligen använda nanovetenskaplig forskningsutrustning inkluderar mikro-nanobearbetningsutrustning, såsom litografimaskiner, exponeringsmaskiner för elektronstrålar, etc., utrustning för kontroll av fysiska egenskaper, såsom utrustning för att ändra de elektrooptiska egenskaperna hos prover, etc. , och utrustning för karaktärisering av fysiska egenskaper, såsom atomkraftmikroskop, nålbord för sond, spektrometer, etc.

3. Funktionerna hos den ovan nämnda enda vetenskapliga forskningsutrustningen är emellertid relativt enkla. Till exempel är den huvudsakliga funktionen för mikronano-bearbetningsutrustningen att bearbeta provets mikronanostruktur, och det är omöjligt att direkt observera och karakterisera den bearbetade mikronanostrukturen. Bra prover tas ut ur enheten för vidare karakterisering. Å andra sidan kan utrustning för karakterisering av fysikaliska egenskaper inte utföra nanotillverkning av prover eller kontrollera de fysiska egenskaperna hos prover, och kan endast tillhandahålla karakterisering av prover som har bearbetats eller prover vars fysikaliska egenskaper har justerats. I synnerhet är regleringen av optiska och elektriska egenskaper hos ett prov ofta icke-permanent, övergående och förändras dynamiskt med omgivningen och tiden för provet. Därför är det mycket viktigt att utföra in-situ realtidskontroll av fysiska egenskaper och karaktärisering av fysiska egenskaper av provet, och det är nyckeln till huruvida förändringslagen för det transienta fysiska fenomenet i provet kan observeras.

4. För närvarande kan kombinationen av vetenskaplig forskningsutrustning lösa några av ovanstående problem, såsom kombinationen av atomkraftsmikroskopi och Ramanspektroskopi, som samtidigt kan karakterisera de fysikaliska egenskaperna hos provets morfologi och Ramanspektroskopi; atomkraftsmikroskopi och elektrisk testning Kombinationen av plattformen kan realisera den fysiska egenskapskarakteriseringen av provets morfologi och elektriska transportegenskaper på samma gång. Effekten av enkel superposition och kombination är dock inte idealisk, och det är fortfarande omöjligt att realisera mikro-nano-bearbetningen, kontroll av fysiska egenskaper och in-situ fysisk egenskapskarakterisering av provet på samma gång, vilket avsevärt begränsar forskningen om de grundläggande fysikaliska egenskaperna hos nanomaterial och forskning och utveckling av nanoenheter. med tillverkning.

Kontakta oss:

Email: zhang@pride-cnc.com

Tel: plus 86-755-23699351

Mob: plus 8618666663894